| Взгляд в 2020 год. ЛазерыТе, кто задумал и изобрел лазер 50 лет назад не могли предсказать той роли, которую они стали играть в течение последней половины века: от средств связи до контроля окружающей среды, от производства до медицины, от развлечений до научных исследований. Далее... | 
 | 
базис кристаллической структуры
 БАЗИС КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ 
  СТРУКТУРЫ - полная совокупность координат центров атомов в симметрично 
  независимой области кристаллич. структуры. Центры атомов в любой идеальной кристаллич. 
  структуре образуют одну (в простейших случаях) или несколько правильных систем 
  точек, к-рые в каждой федоровской группе подразделяются на т. н. позиции 
  Уайкова. Две правильные системы точек относятся к одной позиции Уайкова, если 
  они имеют точки, принадлежащие одному и тому же элементу симметрии (частные 
  правильные системы точек), либо находятся в общем положении (общие правильные 
  системы, к к-рым причисляются точки, принадлежащие скользящим плоскостям симметрии 
  и винтовым осям). Разл. позиции Уайкова для каждой из 230 фёдоровских групп 
  приведены в Междунар. таблицах по кристаллографии. Каждая правильная система 
  содержит одну точку в независимой области.
 T. о., кристаллич. структура полностью 
  задается следующими характеристиками: 1) фёдоровской группой; 2) метрич. параметрами 
  элементарной ячейки (параллелепипеда Браве); 3) индексами позиций Уайкова, составляющих 
  эту структуру правильных систем точек; 4) численными значениями свободных координат 
  этих позиций в репере Браве (см. Браве решётки ).Координаты всех атомов 
  кристаллич. структуры можно рассчитать, исходя из этих данных и используя Междунар. 
  таблицы. Эксперим. определение кристаллич. структур производится методами рентгеновского 
  структурного анализа, электронографии, нейтронографии.
 Лит.: Бокий Г. Б., Введение в 
  кристаллохимию, M., 1954; Современная кристаллография, т. 1, M., 1979; International 
  tables for X-ray crystallography, v. 1- Symmetry groups, Birmingham 1969, International 
  tables for X-ray diffraction, v. A, Dordrecht-Boston, 1983. Б. Н. Вайнштейн, 
  Р. В. Галицин.




 
				
 webmaster@femto.com.ua
 webmaster@femto.com.ua