брэгговское отражение

БРЭГГОВСКОЕ ОТРАЖЕНИЕ - схемы дифракции рентгеновских лучей, при к-рой падающий и дифракционный лучи лежат по одну сторону от поверхности кристалла (рис., а). В том случае, когда падающий и дифракционный лучи находятся по разные стороны кристаллич. пластины (рис., б), имеет место лауэвское прохождение (Л. п.). Если угол j между системой атомных плоскостей, находящихся в отражающем положении, и входной поверхностью кристалла равен нулю, то Б. о. наз. симметричным, в остальных случаях - асимметричным. При имеет место симметричное Л. п.

Б. о. и Л. п. являются простейшими фундам. задачами динамич. дифракции рентг. лучей, полностью выявляющими её осн. особенности. Введение в рассмотрение схем Б. о. и Л. п. имеет смысл только для двухлучевой динамич. дифракции. При многолучевой дифракции одновременно имеются и отражённые и прошедшие дифракц. лучи, к-рые могут взаимодействовать, что не позволяет выделять к--л. простейшие схемы. При кинематич. дифракции, когда обратным влиянием дифракц. луча на проходящий можно пренебречь, различие между Б. о. и Л. п. исчезает.

Для Б. о. и Л. п. резко отличаются структура волнового поля внутри кристалла и коэффициенты отражения. Каждой из этих схем присущи свои специфич. эффекты, связанные с разл. характером обратной связи между дифракционной и проходящей волнами.

Схемы взаимного расположения входной поверхности 1 кристаллической пластинки, системы атомных плоскостей 2, находящейся в отражающем положении, прошедшего 3, падающего 4 и дифракционного 5 лучей: а - для асимметричного брэгговского отражения; б - для асимметричного лауэвского прохождения; - угол Брэгга.

При Б. о. дифракционная и проходящая волны имеют противоположно направленные относительно оси z проекции векторов потоков энергии (активная связь). В случае Л. п. эти связанные волны имеют одинаково направленные вдоль оси z проекции потока энергии (пассивная связь).

Непосредств. перехода Б. о. в Л. п. и обратно, напр. за счёт изменения длины волны излучения, нет. Это связано с тем, что при углах (рис., а, б), попадающих в интервал , где - критич. угол полного внеш. отражения (см. Поляризуемость рентгеновская ),часть интенсивности дифракц. луча испытывает полное внеш. отражение. При этом поле в кристалле меняет свою структуру и исходная двухлучевая конфигурация превращается в трёхлучевую (т. н. резко асимметричная дифракция). Аналогичная ситуация возникает также при малых углах скольжения падающего на кристалл луча.

Для электронов возможность реализации условий Л. п. и Б. о. зависит от энергии частиц. В электронной микроскопии при ускоряющих напряжениях ~10⁵ В из-за малой величины угла Брэгга обычно имеют место Л. п. Наблюдение Б. о. возможно при анализе поверхностей твёрдых тел методом дифракции медленных электронов с энергиями ~10-100 эВ.

Лит. CM. при ст. Дифракция рентгеновских лучей.

А. В. Колпаков.

   <<      Предметный указатель      >>