индексы кристаллографические

ИНДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ - три целых числа, определяющие расположение в пространстве граней и атомных плоскостей кристалла (индексы Миллера), а также направлений в кристалле и его рёбер (индексы Вейса) относительно кристаллографич. осей. Прямая и параллельное ей ребро, определяемые индексами Вейса р₁, р₂, р₃ (обозначаются [p₁p₂p₃]), проходят из начала координат О в точку А, определяемую вектором p₁a+p₂b+p₃c, где а, b, с - периоды решётки (на рис. прямая ОА определяется индексами Вейса [124]). Кристаллографич. плоскость отсекает на осях координат, построенных на векторах a., b, c, отрезки р₁а, p'₂b, р'₃с (p'₁, р'₂, р'₃ - целые числа); целочисл. обратные отношения 1/p'₁ : 1/p'₂ : 1/p'₃=h:k:l определяют индексы Миллера (hkl)данной плоскости. Напр., для плоскостей Р на рис. p'₁=2, p'₂=3, р'₃=6; обратные отношения этих величин ¹/₂:¹/₃:¹/₆ можно привести к целым числам: ⁶/₂ ^{: 6}/з ^{: 6}/₆=3:2:1, т. е. плоскость Р определяется миллеровскими индексами (321).

Прямая ОА с индексами Вейса [124] и плоскость Р с индексами Миллера (321); Ох, Оу, Оz - кристаллографические оси.

Равенство нулю одного или двух индексов Миллера означает, что плоскости параллельны одной или двум кристаллографич. осям. Отрицат. значения индексов Миллера соответствуют плоскостям, пересекающим оси координат в отрицат. направлениях. Совокупность симметричных граней одной простой формы кристалла обозначается {h k l}. При дифракции рентгеновских лучей индексы h, k, l отражающей плоскости характеризуют одновременно положение дифракционного максимума (рефлекса) в обратной решётке. Лит. см. при ст. Кристаллография. Б .К. Вайнштейн.

   <<      Предметный указатель      >>