Стартовая Предметный указатель Новости науки и техники
Новости науки и техники
Технология производства экранов AMOLED
Развитие новой концептуальной технологии в производстве устройств отображения графической информации
Технология производства устройств отображения на жидких кристаллах или TFT уже очень долго и успешно применяется и находится на пике своей популярности. Но уже сейчас появилась, успешно разрабатывается и даже применяется AMOLED технология производства устройств отображения информации. И, возможно, что уже в самом скором будущем она вытеснит все свои жидкокристаллические аналоги. Далее...

AMOLED экран

инклюзивное сечение

ИНКЛЮЗИВНОЕ СЕЧЕНИЕ - сечение инклюзивного процесса. Обычно измеряют дифференц. сечение процесса ab''cX образования частицы с, импульс к-рой р и энергия E, в интервале dp/E при соударении частиц а и b, Eds/dp (X - совокупность остальных вторичных частиц реакции). Эта величина инвариантна относительно продольных преобразований Лоренца и зависит от трёх переменных, например Eds/dp=f(s, p^ , p||), где Цs - полная энергия первичных частиц в системе центра инерции (с. ц. и.) [1, 2], а р^ и р|| - перпендикулярная и параллельная компоненты импульса частицы с относительно оси соударения. Этот набор переменных обычно используется при изучении процессов фрагментации первичных частиц в лаб. системе координат или в системе покоя падающей частицы. Для изучения масштабной инвариантности множеств, процессов используют также переменные 008-24.jpg и р^, где 008-25.jpg и 008-26.jpg - параллельный и макс, импульсы частицы с в с. ц. и.; в этих переменных008-27.jpg (Eц.и.-энергия в с. ц. и.). Для сравнения данных, полученных в разных системах отсчёта, обычно используют переменные р^ и т. н. продольную быстроту частицы 008-28.jpg (в системе единиц008-29.jpg ). В этом случае 008-30.jpg, причём форма распределения частиц по у не меняется при переходе от одной системы к другой. При исследовании дифракц. процессов (х''1)часто используют квадрат переданного 4-импульса t=(pb-pc)2 или t=(рас)2 и квадрат недостающей массы M2X=(pa+pb-pc)2i-4-импульс частицы i); в этих переменных Eds/dp@ 008-31.jpg В опытах с электронными методами регистрации частиц дифференц. И. с. выражается через импульс р частицы и телесный угол W, 008-32.jpg ( dW=sinVdVdj, V, j - полярный и азимутальный углы). Применяют и др. переменные, связанные с предполагаемым механизмом рождения частицы с [1, 3]. Полное И. с. sинкл по определению равно:
008-33.jpg
где s(k) - полное сечение образования А частиц с. Если определить ср. число частиц с, образующихся в неупругих ab-взаимодействиях, как
008-34.jpg, где , 008-35.jpg
то sинкл(с)=(nс)sнеупр(аb), т. е полное И. с. при высоких энергиях значительно больше, чем sнеупр(аb). Напр., в рр-взаимодействиях при энергии столкновения E@60 ГэВ <np>@15 и sинкл(p)@15 sнеупр(аb). Лит. см. при ст. Инклюзивный процесс. В. Г. Гришин.

  Предметный указатель