Стартовая Предметный указатель Новости науки и техники
Новости науки и техники
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ СВЕРХПРОВОДИМОСТЬ
Высокотемпературные сверхпроводники были открыты 18 лет назад, но по сей день остаются загадкой. Керамические материалы на основе оксида меди проводят электрический ток без потерь при намного более высокой температуре, чем обычные сверхпроводники, которая, впрочем, гораздо ниже комнатной. Далее...

ионно-фотонная эмиссия

ИОННО-ФОТОННАЯ ЭМИССИЯ - испускание фотонов при ионной бомбардировке твёрдого тела (мишени). Происходит в результате снятия электронного возбуждения в атомах и молекулах, возникшего при торможении ионов или их нейтрализации. Излучать могут как частицы в объёме твёрдого тела (ионолюминесценция), так и покидающие поверхность возбуждённые атомы, молекулы и ионы мишени (И--ф. э.). В последнем случае испускание происходит на разл. расстояниях от поверхности, определяемых скоростью частиц и временем жизни в определ. возбуждённом состоянии. Над поверхностью образуется светящийся ореол, что позволяет легко отделить это свечение от иополюминесценции. В спектрах И--ф. э. наблюдаются линии атомов, ионов и молекулярные полосы (рис.), а в отд. случаях и квазинепрерывное излучение (природа к-рого пока не ясна). Наиб, интенсивными в спектрах являются, как правило, линии распылённых атомов. Количественно И--ф. э. характеризуется коэф. эмиссии или выходом h фотонов (усреднённое число фотонов на 1 падающий ион для выбранного спектрального перехода). Для наиб, интенсивных переходов h~ 10-3-10-7 фотонов/ион для чистых металлов и может быть значительно выше для окислов металлов или диэлектриков. Ср. энергия распылённых возбуждённых частиц составляет неск. десятков эВ, т. е. выше, чем у общего потока распылённых частиц (см. Распыление ).Её величина не зависит от энергии падающих ионов. Возбуждение отлетающих частиц обусловлено соударениями в объёме тела или взаимодействием их валентных электронов с поверхностью.
10-94.jpg
Явление И--ф. э. лежит в оспове метода ионно-фотонной спектроскопии для диагностики поверхности. Анализ спектров излучения позволяет определить не только элементный состав поверхности, но и её электронную структуру и характер взаимодействия поверхностных атомов, а также даёт уникальные сведения о динамике электронных переходов в приповерхностной области материала в условиях облучения его ионным пучком (в процессе радиац. повреждения). Лит.: Петров Н. Н., Аброян И. А., Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. Л., 1977; Поп С. С., Закономерности и механизмы ионно-фотонной эмиссии металлов, в сб.; Проблемы физической электроники. Л., 1989; Thomas G. Е., Bombardment-induced light emission, "Surface Sci.", 1079, v. 90, № 2, p. 381. Н. H. Петров.

  Предметный указатель