Доступная практика научной коммуникацииБесплатный открытый доступ к результатам научных исследований с правом законного их использования представляет актуальную и важную задачу научной коммуникации. При этом особый интерес представляет реализация практики открытого бесплатного доступа научных организаций и отдельных исследователей к онлайновым публикациям научных результатов. Далее... |
кремний
КРЕМНИЙ (Silicium),
Si, хим. элемент IV группы периодич. системы элементов, ат. номер 14, ат. масса
28.0855, относится к неметаллам. Природный К. состоит из стабильных изотопов
28Si (92,23%), 29Si (4,67%) и 30Si (3,10%).
Конфигурация внеш. электронной оболочки 3s2p2.
Энергии последоват. ионизации 8,151, 16,342, 33,530, 45,141 эВ. Энергия сродства
к электрону 1,8 эВ. Кристаллохим. радиус атома К. 0,134 нм, радиус иона Si4+
0, 039 нм. Значение электроотрицательности 1,74.
В свободном виде К. тёмно-серое
кристаллич. вещество, с кубич. гранецентрированной кристаллич. решёткой типа
алмаза, параметр к-рой а=0,54304 нм. Известен также коричневый (т. н. аморфный)
К., отличающийся от кристаллич. К. лишь высокой дисперсностью и повторяющий
в ближнем порядке структуру типа алмаза. При давлениях 12-15 ГПа получен "металлич."
К., переходящий при темп-ре ниже 6,7 К в сверхпроводящее состояние. Плотность
кристаллич. К. 2,328 кг/дм3, tпл==1415°С, tкип ок. 3250 °С. Теплоёмкость cр = 20,1 Дж/моль*К, теплота
плавления 49,8 кДж/моль, теплота испарения 355 кДж/моль. К. диамагнитен. Темп-pa
Дебая аморфного К. 645 К. Прозрачен
для ИК-излучения с длиной волны =1-9
мкм, показатель преломления 3,42 (=6
мкм). Диэлектрич. проницаемость К. разной степени чистоты 11 - 15. Теплопроводность
образцов К. разной чистоты составляет 84-126 Вт/м*К (25 °С). Температурный
коэф. линейного расширения поликристаллич. К. 3,82
10-6 К-1 (при 293-1273 К). Тв. по Моосу 7,0, по Бринеллю
2,35 ГПа/м2; модуль упругости поликристаллич. образца 162,7 ГПа.
К.- типичный полупроводник
с шириной запрещённой зоны 1.21 эВ (при 0 К), 1,09 - 1,1 эВ (при 300 К). Концентрация
собств. носителей заряда (электронов и дырок) при комнатной темп-ре 6,8*1010
см-3, эфф. подвижность электронов и дырок 0,1350-0,1450 и 0,0480-
0,0500 м2/В*с соответственно. Электропроводность К. сильно зависит
от примесей; уд. электрич. сопротивление чистого К. при комнатной темп-ре равно
(2,3- 2,5)*103 Ом*м.
При комнатной темп-ре К.
химически мало активен; в соединениях проявляет степень окисления +4, реже +2
и др.
Особо чистый К., легированный спец. добавками,- осн. материал микроэлектроники, он используется для изготовления разл. полупроводниковых приборов - транзисторов, тиристоров силовых выпрямителей тока, солнечных фотоэлементов, полупроводниковых лазеров и т. д. Монокристаллы SiO2 применяются в радиотехнике, Si02 используют в оптич. приборостроении (напр., изготовляют линзы и призмы для УФ-приборов). К. прозрачен для длинноволнового излучения, поэтому его применяют в ИК-оптике. К. применяют также в металлургии (для раскисления сталей, как легирующую добавку), он является составной частью мн. сплавов. Кремнийорганич. соединения входят в состав разл. смазочных масел, спец. резины и т. д. Искусств. радионуклиды К. короткоживущи; наиб. значение имеет -радиоактивный 31Si ( =2,62 ч). С. С. Бердоносов.