Стартовая Предметный указатель Новости науки и техники
Новости науки и техники
Технология производства экранов AMOLED
Развитие новой концептуальной технологии в производстве устройств отображения графической информации
Технология производства устройств отображения на жидких кристаллах или TFT уже очень долго и успешно применяется и находится на пике своей популярности. Но уже сейчас появилась, успешно разрабатывается и даже применяется AMOLED технология производства устройств отображения информации. И, возможно, что уже в самом скором будущем она вытеснит все свои жидкокристаллические аналоги. Далее...

AMOLED экран

кривая роста

КРИВАЯ РОСТА - зависимость интенсивности спектральной линии поглощения от числа атомов, участвующих в её образовании. Применяется для определения физ. условий и содержания хим. элементов в атмосферах звёзд, а также для определения сил осцилляторов .В качестве параметра, характеризующего интенсивность линии, используется эквивалентная ширина спектральной линии 2530-152.jpg (полная энергия излучения2530-153.jpg, поглощённая в линии, выражаемая шириной соседнего участка непрерывного спектра, в к-ром содержится энергия, равная 2530-154.jpg):

2530-155.jpg

где 2530-156.jpg (или 2530-157.jpg) - остаточная интенсивность, т. е. отношение интенсивности излучения на данной длине волны2530-158.jpg (частоте 2530-159.jpg) в пределах спектральной линии к интенсивности излучения в соседнем непрерывном спектре. К. р. может быть построена на основанип эксперим. данных и вычислена аналитически при известном коэф. поглощения в линии. Сравнение эксперим. и теоретич. К. р. позволяет определить содержание хим. элементов, темп-ру возбуждения Тех (см. ниже) и скорость турбулентных движений2530-160.jpg

В рамках простейшей двухслойной модели Шварцшильда - Шустера звёздная атмосфера условно разбивается на два слоя - фотосферу (излучающую в непрерывном спектре) ц обращающий слой (однородный слой, где образуются линии поглощения). В этом случае контур спектральной линии определяется выражением

2530-161.jpg

- оптическая толщина обращающего слоя на частоте 2530-162.jpg в пределах линии, ni - концентрация поглощающих атомов, 2530-163.jpg - поглощения коэффициент на частоте 2530-164.jpg, рассчитанный на 1 атом, Ni - число поглощающих атомов на луче зрения (в столбе сечением 1 см2). В спектрах звёзд коэф. поглощения в линиях большинства элементов определяется совместным действием эффекта Доплера (в центр. областях линии) и эффектов затухания излучения (в крыльях линии):

2530-165.jpg

где 2530-166.jpg - коэф. поглощения в центре линии 2530-167.jpg - частота, соответствующая переходу с i-го на k-й уровень энергии, fik - соответствующая сила осциллятора, 2530-168.jpg - доплеровская полуширина (2530-169.jpg - условный параметр), Т - темп-pa, т - масса атома,2530-170.jpg2530-171.jpg , где 2530-172.jpg, 2530-173.jpg - постоянные затухания вследствие излучения, 2530-174.jpg - постоянная затухания вследствие столкновения атомов. При малых значениях 2530-175.jpg, когда оптич. толша в центре линии 2530-176.jpg= =2530-177.jpg не превосходит 0,5, линия слаба; контур её определяется гл. обр. эффектом Доплера, а 2530-178.jpg растёт пропорц. 2530-179.jpg (прямолинейный участок К. р.). При дальнейшем увеличении 2530-180.jpg рост центр. областей линии замедляется и появляются крылья линии, определяемые процессами затухания излучения; эквивалентная ширина растёт медленнее: 2530-181.jpg при 2530-182.jpg55 (пологий участок К. р.). При очень больших значениях 2530-184.jpg (я, следовательно, 2530-185.jpg) контур линии определяется целиком процессами затухания излучения. В этом случае 2530-186.jpg На рис. показано семейство теоретич. К. р., рассчитанных для модели Шварцшильда - Шустера при разл. значениях нормированной постоянной затухания 2530-187.jpg


2530-183.jpg


На практике для линий каждого мультиплета (см. Мулътиплетностъ) данного элемента строят зависимость 2530-188.jpg , получая при этом отрезки К. р., сдвинутые относительно друг друга по оси абсцисс на величину 2530-189.jpg - разность потенциалов возбуждения ниж. уровней мультиплетов. (Абсциссы точек К. р., полученных по линиям одного мультиплета, имеющим общий ниж. уровень, отличаются только величиной 2530-190.jpg, поскольку числа Ni для них одинаковы.) Перемещая эти отрезки параллельно оси абсцисс, составляют из них полную К. р. Построенную К. р. сравнивают с семейством теоретич. К. р. Сдвигая построенную К. р. вдоль осей координат добиваются наилучшего совпадения с одной из теоретич. К. р. По величине сдвига вдоль оси ординат находят параметр2530-191.jpg, по к-рому оценивают 2530-192.jpg. По величине сдвига вдоль оси абсцисс для каждой линии определяют соответствующее значение 2530-193.jpg и, следовательно, Ni ; по параметру z, соответствующему выбранной теоретич. К. р., определяют 2530-194.jpg и т. о. роль столкновений в затухании излучения (т. е. концентрацию атомов в обращающем слое). Предполагая Волъцмана распределение атомов по состояниям возбуждения, по полученным Ni для линий разл. мультиплетов находят темп-ру возбуждения Тех (обычно по наклону графика зависимости lg Ni от потенциала возбуждения 2531-1.jpg) и полное число атомов данного элемента на рассматриваемой стадии ионизации Nr. По найденным Nr для элементов, у к-рых в исследуемом спектре присутствуют лпнии двух стадий ионизации, с помощью Саха формулы определяют темн-ру ионизации Тi и концентрацию свободных электронов пе. Используя эти данные, по ф-ле Саха находят числа атомов на луче зрения на др. стадиях ионизации, не представленных линиями в данном спектре, и, следовательно, полное число атомов данного элемента на луче зрения. Т. о. определяется хим. состав звёздных атмосфер. Используя найденную полную К. р. и измерив 2531-2.jpgлиний, у к-рых неизвестны силы осцилляторов, находят значения последних (т. н. солнечные и звёздные силы осцилляторов).

Лит.: Соболев В. В., Курс теоретической астрофизики, 3 изд., М., 1985; Каули Ч., Теория звездных спектров, пер. с англ., М., 1974. Л. И. Антипова.


  Предметный указатель