Стартовая Предметный указатель Новости науки и техники
Новости науки и техники
POTENTIAL DIFFERENCE: зарядка мобильного за 16 минут
Технология зарядки литий-ионных аккумуляторов (запатентованная еще в 2001 году) позволяет полностью зарядить мобильный девайс в среднем за 16 минут. Производство зарядных устройств нового типа начнется после того, как разработчики проверят, живучесть батарей, заряжаемых быстрым способом Далее...

быстрая зарядка мобильного

лауэ метод

ЛАУЭ МЕТОД - метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей; один из методов рентгеновского структурного анализа. Представляет собой усовершенствованную методику опыта, поставленного в 1912 В. Фридрихом (W. Fried-rich) и П. Книппингом (P. Knipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue); в этом эксперименте была открыта дифракция рентг. излучения на кристалле.

2548-81.jpg

Схема метода Лауэ: SO - первичный пучок лучей; К - кристалл; ММ' - пространственная ориентация одной из находящихся в отражающем положении систем атомных плоскостей кристалла; KL - отражённый (дифрагированный) луч; 2548-82.jpg - фотоплёнка.

В Л. м. тонкий пучок рентг. лучей непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый на гониометрич. головке (см. Рентгеновский гониометр ).Излучение, рассеянное кристаллом в направлениях, определяемых Брэгга - Вулъфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке, помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему пучку лучей; полученное изображение наз. лауэграм-мой. В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой. Л. м. применяется для пространственной ориентировки монокристаллов (в особенности неогранённых), определения точечной группы симметрии кристаллов, исследования реальной структуры и совершенства внутр. строения монокристаллов (см. также Рентгеновская топография ).Л. м. используется также для исследования процессов старения и распада в метас-табильных фазах, перестройки кристаллич. структуры под действием темп-ры, облучения нейтронами или g-излучением (см. Рентгенография материалов ),а также неупругих когерентных процессов рассеяния рентг. излучения и др. проблем.

Лит. см. при ст. Дифракция рентгеновских лучей. Рентгеновский структурный анализ. А. В. Колпаков.

  Предметный указатель