POTENTIAL DIFFERENCE: зарядка мобильного за 16 минутТехнология зарядки литий-ионных аккумуляторов (запатентованная еще в 2001 году) позволяет полностью зарядить мобильный девайс в среднем за 16 минут. Производство зарядных устройств нового типа начнется после того, как разработчики проверят, живучесть батарей, заряжаемых быстрым способом Далее... |
лауэ метод
ЛАУЭ МЕТОД - метод
исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей; один
из методов рентгеновского структурного анализа. Представляет собой усовершенствованную
методику опыта, поставленного в 1912 В. Фридрихом (W. Fried-rich) и П. Книппингом
(P. Knipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue); в этом эксперименте была открыта
дифракция рентг. излучения на кристалле.
Схема метода Лауэ: SO - первичный пучок лучей; К - кристалл; ММ' - пространственная ориентация одной из находящихся в отражающем положении систем атомных плоскостей кристалла; KL - отражённый (дифрагированный) луч; - фотоплёнка.
В Л. м. тонкий пучок рентг.
лучей непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый
на гониометрич. головке (см. Рентгеновский гониометр ).Излучение, рассеянное
кристаллом в направлениях,
определяемых Брэгга - Вулъфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке,
помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему пучку лучей; полученное изображение
наз. лауэграм-мой. В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается
перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой.
Л. м. применяется для пространственной ориентировки монокристаллов (в особенности
неогранённых), определения точечной группы симметрии кристаллов, исследования
реальной структуры и совершенства внутр. строения монокристаллов (см. также
Рентгеновская топография ).Л. м. используется также для исследования
процессов старения и распада в метас-табильных фазах, перестройки кристаллич.
структуры под действием темп-ры, облучения нейтронами или g-излучением (см.
Рентгенография материалов ),а также неупругих когерентных процессов рассеяния
рентг. излучения и др. проблем.
Лит. см. при ст.
Дифракция рентгеновских лучей. Рентгеновский структурный анализ. А. В. Колпаков.