Мемристоры внедряются в электрические цепиВ полку всевозможных «исторов» ожидается пополнение. Мемристор - название нового элемента, применяемого в электрических цепях нового поколения. Мир познакомился с новым элементом на демонстрации в НР Labs. Компания НР совместно с Hynix Semiconductor Inc серьёзно занялись проблемой вывода мемристоров на рынок. Далее... |
электронный топологический переход
ЭЛЕКТРОННЫЙ
ТОПОЛОГИЧЕСКИЙ ПЕРЕХОД (фазовый переход 21/2
рода, переход И. M. Лифшица) - изменение топологии (связности) фермы-поверхности металла в результате внеш. воздействия. Явления, обусловленные Э. т. п.,
наблюдаются в металлах при низкой темп-ре. Нек-рые изоэнергетич. поверхности
в пространстве квазиимпульсов р, описывающие электронный
энергетич. спектр (см. Зонная теория ),содержат критич. точки р=рс, в к-рых скорость электрона u= д/дp=0
(см. Ван Хова особенности). Такие поверхности наз. критическими
(рс ). При Э. т. п. поверхность Ферми совпадает с критич.
изоэнергетич. поверхностью
Если критич. точка не вырождена,
то в её окрестности зависимость энергии электрона от квазиимпульса (закон дисперсии)
(р)может быть представлена в виде
где х, у, z - оси
координат. Если все три эффективные массы тх, ту, mz имеют один знак, то критич. точка является точкой экстремума, если знак
одной из эфф. масс отличается от знака двух других - седловой точкой. В результате
внеш. воздействия на металл (напр., приложения внеш. давления или введения примесей),
изменяющего период решётки, а вместе с ним концентрацию электронов проводимости
и ферми-энергию, уровень Ферми-металла
может перемещаться от значения, меньшего ,
до значения, большего .
При этом поверхность Ферми меняет свою топологию, т. е. происходит Э. т. п.
В зависимости от типа критич. точки, через к-рую "проходит" уровень
Ферми, различают 2 осн. типа Э. т. п.- появление или исчезновение новой полости
поверхности Ферми (рс - точка экстремума; рис. 1,а)
и разрыв перемычки поверхности Ферми (рс- седловая
точка; рис. 1,б). Если критич. точка одновременно является точкой вырождения
электронного спектра, то возможны более сложные Э. т. п. Изменение топологии
поверхности Ферми влечёт за собой появление особенностей в плотности электронных
состояний на уровне
Ферми. Вблизи Э. т. п. плотность состояний может быть представлена в виде v()
= v0()
+ + dv(),
где v0 - регулярная часть плотности состояний, обусловленная
электронами, находящимися далеко от особой точки, a dv- сингулярная
добавка, связанная с Э. т. п. Для осн. типов Э. т. п. в случае идеального кристалла
последняя может быть записана единым образом:
Здесь a= 23/2|mxmymz|1/2p-2-3.
В области I число полостей поверхности Ферми больше, в области II - меньше;
знак „плюс'' („минус'') относится к случаю, когда число полостей при
увеличении энергии увеличивается (уменьшается).
Рис. 1. Изменение топологии поверхности Ферми при электронном топологическом переходе: а-появление новых полостей; б-разрыв перемычки. Количество и расположение перемычек и новых полостей определяется симметрией кристалла; так, на рис. а показан случай кубического кристалла - 6 полостей (изображена проекция на одну из плоскостей симметрии).
Появление добавки dv
к плотности состояний приводит к аномалиям всех электронных характеристик кристалла.
Так, термодинамич. потенциал при T=0 К приобретает добавку, к-рая
отлична от 0 лишь с одной стороны от Э. т. п. (в области I) и пропорциональна
|z|5/2, где энергетич. параметр z=
характеризует близость электронной системы к Э. т. п. Таким образом, вторые
и третьи производные термодинамич. потенциала при T=0 К в идеальном кристалле
имеют особенности по параметру z, напр. третьи при z0
обращаются в бесконечность как |z|-1/2. Это позволило Лифшицу в соответствии
с терминологией Эренфеста назвать Э. т. п. фазовым переходом двухсполовинного
рода.
При конечной темп-ре добавка
к термодинамич. потенциалу отлична от 0 по обе стороны от перехода и Э. т. п.
перестаёт быть фазовым переходом - особенность степени 5/2 "размывается"
темп-рой. Аналогично влияют дефекты в кристаллах (примесные атомы, дислокации и т. п.). Отклонение от идеальности кристалла приводит к тому, что добавка
к плотности состояний (2) размывается на интервал энергий шириной Г~/t,
где т - время жизни электронных состояний. Соответственно добавка к термодинамич.
потенциалу также размыта, и Э. т. п. в неидеальном кристалле даже при T=0
К не является фазовым переходом.
Наиб. просты для анализа
особенности (при Э. т. п.) термодинамич. характеристик. При T=0 К
в идеальном кристалле электронная теплоёмкость Сэ (точнее,
отношение Cэ/T)и сжимаемость дР/дV (P-электронное
давление) имеют сингулярные добавки, отличные от нуля с одной стороны от точки
перехода и зависящие от дробной степени |z| , a добавка к коэф.
теплового расширения дV/дT (V- объём) с одной стороны от перехода обращается
в бесконечность как |z|-1/2. При Т>0 К или в неидеальном
кристалле эти особенности размываются, изломы в теплоёмкости и сжимаемости сглаживаются,
а бесконечный скачок в коэф. теплового расширения становится конечным.
Один из способов регистрации
Э. т. п.- измерение особенности термоэдс a/Т. В слабонеидеальном
кристалле при рассеянии электронов на примесях термоэдс при Э. т. п. имеет пик,
причём значение термоэдс в максимуме превышает значение вдали от Э. т. п. (рис.
2). Поведение термоэдс, а также излом в электросопротивлении связаны с особенностью
длины свободного пробега электронов основной полости поверхности Ферми (не затронутой
Э. т. п.). Причина особенности длины свободного пробега- появление или исчезновение
канала рассеяния электронов при изменении топологии поверхности Ферми.
Рис. 2. Зависимость дифференциальной термоэдс a/T сплава Li - Mg от концентрации Mg при различных температурах T: 1) 4,2 К; 2) 78 К; 3) 300 К. При концентрации Mg ок. 20 атомных % происходит электронный топологический переход типа разрыва перемычки.
Э. т. п. существенно проявляется
в т. н. структурно-чувствительных характеристиках металла, определяемых структурой
поверхности Ферми. Так, при Э. т. п. изменяются спектр и амплитуда квантовых
осцилляции в магнитном поле, определяемых экстремальными сечениями поверхности
Ферми (см. де Хааза- ван Альфена эффект); изменяются гальваномагн. характеристики
в сильном магн. поле, зависящие от того, открыта поверхность Ферми или замкнута
(см. Гальваномагнитые явления); коэф. поглощения звука в коротковолновом
пределе, определяемый электронами "пояска" на поверхности Ферми
где k и w
- волновой вектор и частота звука, u - скорость электронов.
Обнаружение аномалий магнетосопротивле-ния (наряду с особенностями темп-ры
сверхпроводящего перехода, см. ниже) явилось первым эксперим. свидетельством
существования Э. т. п.
Структура "пояска"
(3) может быть изменена без Э. т. п.- при образовании вмятин или перетяжек на
поверхности Ферми. Такое изменение локальной геометрии поверхности Ферми (обобщённый
Э. г. п.) также приводит к аномалиям структурно-чувствительных свойств.
Э. т. п. проявляется также
в виде аномалии в зависимости темп-ры сверхпроводящего перехода Tc. от давления P; дТс /дР имеет максимум вблизи Э. т. п.,
причём структура этого максимума даёт возможность получить информацию о характере
изменения поверхности Ферми.
Э. т. п.- частный случай
э л е к т р о н н ы х ф а з о в ы х п е р е х о д о в - качеств изменения электронной
подсистемы металла. Электронные переходы разнообразны. К ним надо отнести переход
из нормального в сверхпроводящее состояние (см. Сверхпроводимость ),переход
из парамагнитного в магнитоупорядоченное состояние (см. Магнитный фазовый
переход), переход металл - диэлектрик и др.
Лит.: Лифшиц И.
M.. Об аномалиях электронных характеристик металла в области больших давлений,
"ЖЭТФ", 1960, т. 38, с. 1569; Mакаров В. И., Барьяхтар В. Г., Об
аномалиях температуры сверхпроводящего перехода под давлением, "ЖЭТФ",
1965, т. 48, с. 1717; Каганов M. И., Лифшиц И. M., Электронная теория металлов
и геометрия, "УФН", 1979, т. 129, с. 487; Егоров В. С., Федоров
A. H., Термоэдс в сплавах литий-магний при переходе 21/2
рода, "ЖЭТФ", 1983, т. 85, с. 1647; Varlamov A. А., Egorov V.
S., Pantsula A. V., Kinetic properties of metals near electronic topoiogical
transitions, "Adv. Phys.", 1989, v. 38, p. 469; Blanter Ya. M.,
Kaganov M. I., "Phys Repts", [в печати].
Я. M. Блантер, М. И. Каганов.